掃描電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域作為關(guān)鍵工具有著舉足輕重的作用，特別是在樣品表面或者近表面區(qū)域的研究分析中，有助于準確獲取形貌、成分和結(jié)構(gòu)信息從而體現(xiàn)出應(yīng)有的價值，這也是
SEM掃描電鏡能夠在相關(guān)的行業(yè)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用的原因所在。樣品表面的成分信息獲取，自然不能忽視電鏡工具的決定性作用，畢竟在整個分析過程中，很多細節(jié)都對關(guān)鍵工具存在較強依賴性，所以說慎重甄選符合要求的電鏡工具才是明智之舉。
眾所周知，如今的掃描電鏡具有豐富功能和高度靈活性為代表的優(yōu)勢，越來越多的成功應(yīng)用案例，也將這些優(yōu)勢的實用價值展露無疑，既然如此對于應(yīng)用力度的持續(xù)加大也就順理成章。依托SEM掃描電鏡化解材料分析過程中遇到的各類障礙和阻力，同樣是對工具功能比較直觀的呈現(xiàn)，僅此一點便足以說明應(yīng)對能力還是相對較強的。
材料質(zhì)量對于持續(xù)動力需要不斷提高，但僅憑常規(guī)措施是遠遠不夠的，反倒是納米級的結(jié)構(gòu)和組分信息極具實用價值，因此通過
FIB-SEM優(yōu)化自動結(jié)構(gòu)分析效果也就更有說服力。其實經(jīng)過持續(xù)的技術(shù)創(chuàng)新，如今的電鏡工具已經(jīng)具備了拓寬應(yīng)用范圍的技術(shù)實力，以此作為契機轉(zhuǎn)變滯后的研究和分析思路，想必也更容易取得事半功倍的效果。
由此可見，電鏡工具的廣泛應(yīng)用，可以提供廣泛的產(chǎn)品組合以及打造先進的自動化能力，這對納米原型設(shè)計在內(nèi)的諸多應(yīng)用都是極具保障作用的，既然如此進一步推進FIB-SEM的廣泛應(yīng)用也就大勢所趨。當(dāng)然，高度靈敏性作為性能優(yōu)勢同樣是不容小覷的，畢竟這對增強各類挑戰(zhàn)的應(yīng)對能力極具實用價值。
