電子顯微鏡的產(chǎn)品系列日益完善,應用范圍自然也會相應拓寬,即便是專業(yè)性極強的行業(yè)領域中,對于電鏡產(chǎn)品的依賴性也相對較強,但前提是不同的工作模式,對于產(chǎn)品的功能類型要加以匹配,至于FIB-SEM的實踐應用,則是在自動結構分析和TEM樣品制備以及納米原型設計中備受青睞。其實不管產(chǎn)品類型和功能如何變化,只要能夠在匹配的應用中取得符合要求的顯著成效,在錯綜復雜的行業(yè)環(huán)境中,就能夠逐步實現(xiàn)利用率的提升。
眾所周知,自動結構分析是具有較高專業(yè)水準的工作模式,如果沒有可信賴電鏡產(chǎn)品作為依托,分析過程中難免會遇到很多不確定因素的干擾,從而導致分析結果無法達到預期水平。而在采用了
FIB-SEM相對應的儀器設備以后,不僅能夠明顯提升分析效率,而且效果水平的提高幅度也會在此基礎上有所增加,從而為產(chǎn)品設備的價值體現(xiàn)奠定基礎。
材料表面的研究分析,同樣離不開功能匹配的電鏡儀器,這也是在持續(xù)工作中總結出來的經(jīng)驗之談,目前來看
XPS儀器對于材料表面工藝的應用需求更容易給予充分滿足。依托電鏡儀器進行材料表面的精細化分析,會在高性能和功能化方面表現(xiàn)出得天獨厚的優(yōu)勢,以此作為契機改進固有的應用策略,自然會對整體效果帶來明顯改善。
由此可見,針對不同的分析流程和應用條件,靈活調(diào)整電競儀器的配置策略還是很有必要的,畢竟這對充分發(fā)揮XPS儀器卓越的性能優(yōu)勢,能夠從不同角度起到很好的輔助作用。無論分析類型如何變化,電鏡儀器的功能匹配度都有必要大幅度提高,從而為切實保障具體分析的整體效果不會受到干擾,在此基礎上的分析結果也是值得信賴的。